金子 忠昭
KANEKO Tadaaki




学位 【 表示 / 非表示 】
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学位名:工学博士
分野名:ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 電気電子材料工学
授与機関名:大阪大学
取得方法:課程
取得年月:1991年03月
経歴 【 表示 / 非表示 】
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所属:関西学院大学
部署名:理工学部 先進エネルギーナノ工学科
職名:教授
年月:2015年04月 ~ 継続中 -
所属:関西学院大学
部署名:理工学部 物理学科
職名:教授
年月:2003年04月 ~ 2015年03月 -
所属:関西学院大学
部署名:理工学部 物理学科
職名:助教授
年月:1997年04月 ~ 2003年03月
論文 【 表示 / 非表示 】
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記述言語:英語
タイトル:Investigation of Run-to-Run Fluctuation in Growth Conditions of Physical Vapor Transport Growth of 4H-SiC Crystals
誌名: Materials Science Forum 924巻 (頁 19 ~ 22)
出版年月:2018年06月
著者: Nana Matsumoto, Hiroaki Shinya, Koji Ashida, Tadaaki Kaneko, Noboru Ohtani *, Masakazu Katsuno, Hiroshi Tsuge, Shinya Sato, Tatsuo FujimotoDOI:10.4028/www.scientific.net/MSF.924.19
掲載種別:研究論文(学術雑誌)
共著区分:共著
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記述言語:英語
タイトル:Rearrangement of Surface Structure of 4o Off-Axis 4H-SiC (0001) Epitaxial Wafer by High Temperature Annealing in Si/Ar Ambient
誌名: Materials Science Forum 924巻 (頁 249 ~ 252)
出版年月:2018年06月
著者:Koji Ashida, Daichi Dojima, Satoshi Torimi, Norihito Yabuki, Yusuke Sudo, Takuya Sakaguchi, Satoru Nogami, Makoto Kitabatake, Tadaaki KanekoDOI:10.4028/www.scientific.net/MSF.924.249
掲載種別:研究論文(学術雑誌)
共著区分:共著
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記述言語:英語
タイトル:In-situ growth mode control of AlN on SiC substrate by sublimation closed space technique
誌名: Journal of Crystal Growth 483巻 (頁 206 ~ 210)
出版年月:2018年02月
著者:Daichi Dojima, Koji Ashida, Tadaaki KanekoDOI:10.1016/j.jcrysgro.2017.11.032
掲載種別:研究論文(学術雑誌)
共著区分:単著
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記述言語:英語
タイトル:Low energy electron channeling contrast imaging from 4H-SiC surface by SEM and its comparison with CDIC-OM and PL imaging
誌名: Materials Science Forum 897巻 (頁 193 ~ 196)
出版年月:2017年05月
著者:Koji Ashida, Toru Aiso, Manabu Okamoto, Hirokazu Seki, Makoto Kitabatake, and Tadaaki KanekoDOI:10.4028/www.scientific.net/MSF.897.193
掲載種別:研究論文(学術雑誌)
共著区分:単著
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記述言語:英語
タイトル:Improving Mechanical Strength and Surface Uniformity to Prepare High Quality Thinned 4H-SiC Epitaxial Wafer Using Si-Vapor Etching Technology
誌名: Materials Science Forum 897巻 (頁 375 ~ 378)
出版年月:2017年05月
著者:Koji Ashida, Toru Aiso, Manabu Okamoto, Hirokazu Seki, Makoto Kitabatake, and Tadaaki KanekoDOI:10.4028/www.scientific.net/MSF.897.375
掲載種別:研究論文(学術雑誌)
共著区分:単著
産業財産権 【 表示 / 非表示 】
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産業財産権の種類:特許権
産業財産権名:VAPOUR-PHASE EPITAXIAL GROWTH METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING SUBSTRATE EQUIPPED WITH EPITAXIAL LAYER
発明者/考案者/創作者:Tadaaki Kaneko,Yasunori Kutsuma,Koji Ashida,Ryo Hashimoto
出願番号:EP17789663.6,2021年05月28日
出願人(機関):Kwansei Gakuin Educational Foundation
出願国:
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産業財産権の種類:特許権
産業財産権名:VAPOUR-PHASE EPITAXIAL GROWTH METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING SUBSTRATE EQUIPPED WITH EPITAXIAL LAYER
発明者/考案者/創作者:Tadaaki Kaneko,Yasunori Kutsuma,Koji Ashida,Ryo Hashimoto
出願番号:EP21176449.3,2021年05月28日
出願人(機関):Kwansei Gakuin Educational Foundation
出願国:
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産業財産権の種類:特許権
産業財産権名:SiC半導体装置の製造方法及びSiC半導体装置
発明者/考案者/創作者:金子忠昭,他
出願番号:TW109133563,2020年09月28日
出願人(機関):学校法人関西学院,他
出願国:台湾
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産業財産権の種類:特許権
産業財産権名:SiC基板、SiC基板の製造方法、SiC半導体装置およびSiC半導体装置の製造方法
発明者/考案者/創作者:金子忠昭,他
出願番号:TW109133566,2020年09月28日
出願人(機関):学校法人関西学院,他
出願国:台湾
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産業財産権の種類:特許権
産業財産権名:SiC単結晶の製造方法、SiC単結晶の製造装置及びSiC単結晶ウェハ
発明者/考案者/創作者:金子忠昭,他
出願番号:TW109133565,2020年09月28日
出願人(機関):学校法人関西学院,他
出願国:台湾
共同研究・競争的資金等の研究課題 【 表示 / 非表示 】
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研究種目:
研究期間:2015年09月 ~ 2017年02月
タイトル:サブナノ結晶配向情報検出ウェハ表面マッピング装置の開発
提供機関:独立行政法人新エネルギー・産業技術総合開発機構
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研究種目:
研究期間:2013年12月 ~ 2016年03月
タイトル:超高真空、低温チップ増強ラマン分光イメージング装置の開発(研究成果展開事業 研究成果最適展開支援プログラムA-STEPシーズ育成タイプ)
提供機関:独立行政法人科学技術振興機構
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研究種目:
研究期間:2013年01月 ~ 2015年02月
タイトル:CMP-free 超高温安定化EPI-ready SiCナノ表面制御プロセスの開発(戦略的省エネルギー技術革新プログラム 実用化開発)
提供機関:独立行政法人新エネルギー・産業技術総合開発機構
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研究種目:
研究期間:2006年07月 ~ 2009年03月
タイトル:大面積SiC革新的基盤技術の研究開発(エネルギー使用合理化技術戦略的開発)
提供機関:独立行政法人新エネルギー・産業技術総合開発機構
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研究種目:
研究期間:2002年07月 ~ 2004年03月
タイトル:SiCパワーデバイス基板の研究開発(大学発事業創出実用化事業)
提供機関:独立行政法人新エネルギー・産業技術総合開発機構
講演・口頭発表等 【 表示 / 非表示 】
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記述言語:日本語
会議名:先進パワー半導体分科会第6回講演会
国際・国内会議:国際会議
開催年月:2019年12月
開催地:広島国際会議場
タイトル:低加速SEMを用いた4H-SiC(0001)エピ/バルク界面ステップ形状の観察
会議種別:ポスター発表
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記述言語:日本語
会議名:先進パワー半導体分科会第6回講演会
国際・国内会議:国際会議
開催年月:2019年12月
開催地:広島国際会議場
タイトル:接合型ダイヤモンド単結晶基板の配向性
会議種別:ポスター発表
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記述言語:英語
会議名:Atomic Level Characterization (ALC’19)
国際・国内会議:国際会議
開催年月:2019年10月
開催地:Kyoto / Japan
タイトル:Characterization of subsurface damage of SiC substrate with several monolayers depth by the growth of epitaxial graphene
会議種別:ポスター発表
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記述言語:英語
会議名:Atomic Level Characterization (ALC’19)
国際・国内会議:国際会議
開催年月:2019年10月
開催地:Kyoto / Japan
タイトル:Characterization of step edge chemical characteristics of 4H-SiC (0001) by observing epitaxial graphene site-selective growth mode change
会議種別:ポスター発表
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記述言語:英語
会議名:International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019
国際・国内会議:国際会議
開催年月:2019年09月 ~ 2019年10月
開催地:Kyoto / Japan
タイトル:BPD-TED Conversion in the SiC substrate after High- Temperature Si-VE
会議種別:口頭発表(一般)
担当授業科目(学内) 【 表示 / 非表示 】
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履修年度:2023年度(西暦)
提供部署名:理工学部
授業科目名:先進エネルギーナノ工学入門
授業形式:代表者
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履修年度:2023年度(西暦)
提供部署名:理工学部
授業科目名:卒業実験及び演習
授業形式:代表者
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履修年度:2023年度(西暦)
提供部署名:理工学部
授業科目名:外国書講読
授業形式:代表者
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履修年度:2023年度(西暦)
提供部署名:理工学研究科前期
授業科目名:文献演習
授業形式:代表者
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履修年度:2023年度(西暦)
提供部署名:理工学研究科前期
授業科目名:特別実験及び演習
授業形式:代表者